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高功率脈沖PIV測(cè)試系統(tǒng)，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級(jí)測(cè)量和建模軟件支持多種負(fù)載牽引技術(shù)，包括使用外部?jī)x器的傳統(tǒng)負(fù)載牽引、基于VNA的負(fù)載牽引、主動(dòng)負(fù)載牽引和混合負(fù)載牽。
SPAD光學(xué)傳感器測(cè)試設(shè)備,光感測(cè)器量子效率測(cè)量?jī)x， 為了能更好的應(yīng)用在移動(dòng)設(shè)備上，這些先進(jìn)光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應(yīng)用卻對(duì)先進(jìn)光傳感器的光感測(cè)性能要求卻越來(lái)越高。 在感光面積微縮的過(guò)程中，也帶來(lái)量子效率精準(zhǔn)檢測(cè)的挑戰(zhàn)。 我們采用與從不同的光束空間均勻化技術(shù)，利用ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方式，與各種先進(jìn)探針臺(tái)形成完整的微米級(jí)光感測(cè)器全光譜量子效率測(cè)試解決方案。