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當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 失效分析設(shè)備 > ESD測(cè)試設(shè)備 > HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備
簡(jiǎn)要描述：目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對(duì)于在以往的TLP測(cè)試機(jī)無(wú)法完成的高電壓?大電流的特性測(cè)試，在TLP傳輸線脈沖測(cè)試儀上得以實(shí)現(xiàn)、并有助于高耐壓元件工作參數(shù)的取得及分析。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-04-01訪 問(wèn) 量：2349產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
ESD（靜電放電）測(cè)試是在半導(dǎo)體可靠性測(cè)試期間進(jìn)行的。ESD測(cè)試對(duì)于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的開(kāi)發(fā)和半導(dǎo)體制造的最終生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC
TLP 測(cè)試機(jī)
l 用于獲取器件保護(hù)電路的相關(guān)參數(shù)特性
l 為器件升級(jí)提供支持，縮短產(chǎn)品周期
l 提供普通和VF（非?？欤┬吞?hào)。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。
l 具有半自動(dòng)探針臺(tái)整合功能的可選自動(dòng)測(cè)試可大大提高生產(chǎn)率。
l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測(cè)試儀結(jié)合使用現(xiàn)在提供大電流輸出型號(hào)（T5000-HC）。
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測(cè)試設(shè)備
此設(shè)備是對(duì)保護(hù)電路的工作特性進(jìn)行模擬測(cè)試的設(shè)備
對(duì)集成電路里保護(hù)電路的工作參數(shù)的收集與分析有很大幫助
也可進(jìn)行VF-TLP測(cè)試
| 產(chǎn)品名/型號(hào) | 設(shè)備說(shuō)明 | 設(shè)備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-T5000/ | 此設(shè)備配備了先進(jìn)的測(cè)試模式 | |
 HED-T5000-HC | 目前，對(duì)于半導(dǎo)體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加 |
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